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日本napson非接觸式JIS法硅錠壽命測定儀

日本napson非接觸式JIS法硅錠壽命測定儀

產(chǎn)品型號: HF-100DCA

所屬分類:

產(chǎn)品時間:2025-08-02

簡要描述:日本napson非接觸式JIS法硅錠壽命測定儀HF-100DCA
以硅塊,JIS tanzaku形狀和晶錠狀態(tài)(單晶/多晶硅)測量樣品
直流方式接觸測量
通過示波器和PC進行數(shù)據(jù)處理(軟件)

詳細說明:

日本napson非接觸式JIS法硅錠壽命測定儀HF-100DCA

 

產(chǎn)品特點

  • 以硅塊,JIS tanzaku形狀和晶錠狀態(tài)(單晶/多晶硅)測量樣品
  • 直流方式接觸測量
  • 通過示波器和PC進行數(shù)據(jù)處理(軟件)

測量規(guī)格

測量目標

硅錠,硅塊,JIS tanzaku形狀

測量尺寸

硅錠,JIS tanzaku形狀(請聯(lián)系我們)

測量范圍

約50μS至20 mS

日本napson非接觸式JIS法硅錠壽命測定儀HF-100DCA

產(chǎn)品特點

  • 以硅塊,JIS tanzaku形狀和晶錠狀態(tài)(單晶/多晶硅)測量樣品
  • 直流方式接觸測量
  • 通過示波器和PC進行數(shù)據(jù)處理(軟件)

測量規(guī)格

測量目標

硅錠,硅塊,JIS tanzaku形狀

測量尺寸

硅錠,JIS tanzaku形狀(請聯(lián)系我們)

測量范圍

約50μS至20 mS



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